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CAHCT1G00QDBVRQ1中文資料德州儀器數(shù)據(jù)手冊(cè)PDF規(guī)格書

CAHCT1G00QDBVRQ1
廠商型號(hào)

CAHCT1G00QDBVRQ1

功能描述

SN74AHCT1G00-Q1 Automotive 2-Input Positive-NAND Gates

絲印標(biāo)識(shí)

37SH

封裝外殼

SOT-23

文件大小

1.14614 Mbytes

頁(yè)面數(shù)量

25 頁(yè)

生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡(jiǎn)稱

TI1德州儀器

中文名稱

德州儀器官網(wǎng)

原廠標(biāo)識(shí)
數(shù)據(jù)手冊(cè)

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更新時(shí)間

2025-3-1 15:50:00

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CAHCT1G00QDBVRQ1規(guī)格書詳情

1 Features

? AEC-Q100 qualified for automotive applications:

– Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

– Device HBM ESD classification level 2

– Device CDM ESD classification level C4B

? Operating range of 4.5V to 5.5V

? Low power consumption, 10μA maximum ICC

? ±8mA output drive at 5V

? Inputs are TTL-voltage compatible

? Latch-up performance exceeds 250mA

per JESD 17

2 Applications

? Enable or disable a digital signal

? Controlling an indicator LED

? Logic latch or control signals

3 Description

The SN74AHCT1G00-Q1 is a 2-input NAND Gate.

Each gate performs the Boolean function Y = A × B in

positive logic.

供應(yīng)商 型號(hào) 品牌 批號(hào) 封裝 庫(kù)存 備注 價(jià)格
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