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SN74LVC132A-Q1中文資料德州儀器數(shù)據(jù)手冊PDF規(guī)格書

SN74LVC132A-Q1
廠商型號

SN74LVC132A-Q1

功能描述

SN74LVC132A-Q1 Automotive Quadruple 2-Input NAND Gates with Schmitt-Trigger Inputs

文件大小

1.81152 Mbytes

頁面數(shù)量

30

生產(chǎn)廠商 Texas Instruments
企業(yè)簡稱

TI德州儀器

中文名稱

美國德州儀器公司官網(wǎng)

原廠標識
數(shù)據(jù)手冊

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更新時間

2025-2-24 11:02:00

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SN74LVC132A-Q1規(guī)格書詳情

1 Features

? AEC-Q100 qualified for automotive applications:

– Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

– Device HBM ESD classification level 2

– Device CDM ESD classification level C4B

? Available in wettable flank QFN (WBQA) package

? Operating range from 1.1V to 3.6V

? 5.5V tolerant input pins

? Supports standard pinouts

? Latch-up performance exceeds 250mA

per JESD 17

? ESD protection exceeds JESD 22

– 2000V Human-Body Model (A114-A)

– 1000V Charged-Device Model (C101)

2 Applications

? Combining power good signals

? Enable digital signals

3 Description

The SN74LVC132A-Q1 device is a quadruple

positive-NAND gate with Schmitt-trigger inputs for

added noise immunity and support for slow input

signal transitions. Each gate performs the Boolean

function Y = A × B or Y = A + B in positive logic.

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