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ZSSC3138BA1C集成電路(IC)的傳感器檢測器接口規(guī)格書PDF中文資料

廠商型號 |
ZSSC3138BA1C |
參數屬性 | ZSSC3138BA1C 包裝為管件;類別為集成電路(IC)的傳感器檢測器接口;產品描述:DICE (WAFER SAWN) - FRAME |
功能描述 | Sensor Signal Conditioner for Ceramic Sensor Applications |
文件大小 |
279.9 Kbytes |
頁面數量 |
25 頁 |
生產廠商 | Integrated Device Technology, Inc. |
企業(yè)簡稱 |
IDT |
中文名稱 | Integrated Device Technology, Inc.官網 |
原廠標識 | ![]() |
數據手冊 | |
更新時間 | 2025-7-30 8:14:00 |
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產品屬性
- 產品編號:
ZSSC3138BA1C
- 制造商:
IDT, Integrated Device Technology Inc
- 類別:
集成電路(IC) > 傳感器和檢測器接口
- 包裝:
管件
- 描述:
DICE (WAFER SAWN) - FRAME
供應商 | 型號 | 品牌 | 批號 | 封裝 | 庫存 | 備注 | 價格 |
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